処分にお困りの装置はありませんか？
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- 廃棄費用の節約
- 廃棄物の削減
- 資源の有効活用
分析機器の買取実績例
各種分析機器
- 電子顕微鏡
- X線回折装置(XRD)
- エリプソメーター
- FT-IR(FTIR)
- 集束イオンビーム加工装置(FIB)
- 原子間力顕微鏡(AFM)
- 走査型プローブ顕微鏡
- 四十極質量分析計
- 電気化学アナライザー
- 熱機械分析装置
など
取り扱いメーカー例
- 日立ハイテク
- 島津製作所(SHIMADZU)
- 堀場製作所(HORIBA)
- Thermo Fisher Scientific
- 日本分光(Jasco)
- セイコーインスツル
- アネルバ
など
現在、本社を山梨に設置し東北から関東、中部、関西、中四国、九州と全国幅広く対応しております。
買取依頼・査定依頼はフォームからお問い合わせ願います。
原則として個人の方から買取は行っていません。
お手持ちの設備を売却したい方は、以下の情報を可能な範囲でご連絡下さい。ご連絡内容に基づいて、査定致します。 必要に応じて下見に伺います。離島以外全国どこでも対応可能です。
査定のための必要情報
- 装置名称
- メーカー
- 型式
- 年式
- 新品取得時の価格
- 稼働状態
- 動作確認可否
- 下見可否
- 設置場所
- 装置の写真
フォームよりお願いいたします。
お気軽にお問い合わせください。
| 機器名称 | メーカー | 型番 |
|---|---|---|
| EDX消耗品 | 日立ハイテクノロジーズ | |
| FT-IR | バリアン Varian | 4100FT-IR/6000UMA |
| FT-IR | 島津製作所 Shimadzu | FTIR-8400 |
| FT-IR | サーモフィッシャーサイエンティフィック | ATAR370 |
| FT-IR | サーモフィッシャーサイエンティフィック | Nicolet iS5 |
| FT-IR | 島津製作所 Shimadzu | FTIR-8400 |
| FT-IR | 日本分光 Jasco | FT/IR-4200 |
| FT-IR | 日本分光 Jasco | FT/IR-4200 |
| GPC（ゲル浸透クロマトグラフ） | 東ソー | HLC-8220GPC |
| GPC（ゲル浸透クロマトグラフ） | ウォーターズ Waters | e2695 |
| ICP-MS（質量分析装置） | パーキンエルマー Perkin Elmer | ELAN DRC |
| ICP発光分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | ICPS-7510 |
| ICP発光分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | ICPE-9820 |
| ICP発光分析装置 | バリアン Varian | VISTA AX |
| LCDアナライザー | 明菱テクニカ | LCA-LU4AS10 |
| Nano Scope | その他 | |
| Qマス（質量ガス分析装置） | アネルバ ANELVA | M-201GA-DM |
| SEM部品 | 日立 Hitachi | |
| X線分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | XRF-1800 |
| X線分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | EDX-700HS50 |
| X線分析装置 EDXソフト | 日立ハイテクノロジーズ | SwiftED-TM |
| X線分析顕微鏡 | 堀場製作所 | XGT-5000WR |
| X線回折装置（XRD） | 島津製作所 Shimadzu | XRD-6000 |
| X線回折装置（XRD） | 島津製作所 Shimadzu | LabX XRD-6000 |
| X線回折装置（XRD） | リガク Rigaku | MiniFlex |
| X線回折装置（XRD） | PANalytical | |
| X線回折装置（XRD） | PANalytical | |
| X線検査装置 | 島津製作所 Shimadzu | SMX-160ET |
| X線検査装置 | 島津製作所 Shimadzu | SMX-100CT |
| イオンクロマトグラフ | ダイオネクス DIONEX | IC25 |
| イオンクロマトグラフ | サーモフィッシャーサイエンティフィック | ICS-2000 |
| イオンビーム | セイコーインスツル SII | SMI3200 |
| エネルギー分散型微小蛍光X線分析装置 | 島津製作所 | μEDX-1300 |
| エリプソメーター | Gaetner | L115B |
| エリプソメーター | GAERTNER | L115C |
| エリプソメーター | 島津製作所 | AEP-100 |
| エリプソメーター | ファイブラボ | MARY-102FM |
| エリプソメーター | ルドルフサーチ | 2.4C |
| エリプソメーター | GAERTNER SCIENTIFIC | L115E |
| オートサンプラー | 島津製作所 Shimadzu | AS-9 |
| ガスクロマトグラフ | アジレントテクノロジー Agilent | 7890A |
| ガス分析計 | ||
| クリーンブース | ||
| シリコン位置調整治具 | ||
| ターンテーブル | 東亜DKK+G1:G51 | TTT-710 |
| フロー式粒子像分析装置 | シスメックス | FPIA3000 |
| プローブステーション | セイコーインスツル SII | L-trace |
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | M-222LD-D |
| ヘリウムリークディテクター | Adixen | ASM310 |
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | M-212LD |
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | M-222LD-D |
| ヘリウムリークディテクター | Adixen | ASM310 |
| ヘリウムリークディテクター | 島津製作所 Shimadzu | MSE-CARRY |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | DLMS-TP3 |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | ヘリオット700 |
| ヘリウムリークディテクター | アルカテル Alcatel | ASM142D |
| ヘリウムリークディテクター | 島津製作所 | MSE2000 |
| ヘリウムリークディテクター | インフィコン Inficon | UL-200 |
| ヘリウムリークディテクター | ||
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | HELIOT 302 |
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | ASM110 TURBO EL |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | HELIOT 301 |
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | M-222LD |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | HELIOT706D-CH |
| ヘリウムリークディテクター | 島津製作所 Shimadzu | MSE-2000R |
| ヘリウムリークディテクター | 島津製作所 Shimadzu | MSE-2200S |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | ヘリオット 702 |
| ヘリウムリークディテクター | アルバック Ulvac | 901D2-J1A |
| マイクロ波試料前処理装置 | マイルストーンゼネラル MILESTONE GENERAL | ETHOS TC |
| 全自動水平型多目的X線回折装置 | リガク Rigaku | SmartLab System 3kW |
| 冷陰極電界放射形走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-4500 |
| 冷陰極電界放射形走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-4500 |
| 分注機 | その他（ニチリョー） | 00-MT-Ⅰ |
| 分注機 | エルメックス | Pro・madia DT cube |
| 卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置 | 島津製作所 | EDX-700 |
| 卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置 | 島津製作所 | EDX-700 |
| 卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置 | 島津製作所 | EDX-700HS |
| 卓上顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズ | TM-1000 |
| 卓上顕微鏡 | 日立 Hitachi | TM-1000 |
| 原子吸光 | 日本ジャーレル・アッシュ | AA-11 |
| 原子吸光光度計 | 日立ハイテクノロジー | Z-2300 |
| 原子吸光分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | AA-6200 |
| 原子吸光分析装置 | バリアン Varian | Spectr AA880 |
| 原子吸光分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | AA7000F |
| 原子吸光分析装置用水素化物発生装置 | 島津製作所 Shimadzu | HVG-1 |
| 原子間力顕微鏡（AFM） | セイコーインスツル SII | Nanopics1000 |
| 外観検査装置 | その他 | |
| 旋光計 | 堀場製作所 | SEPA-300 |
| 昇温脱離分析装置(TDS) | 電子科学 | TDS1200 |
| 比表面積・細孔分布測定装置 | 島津製作所 Shimadzu | ASAP 2020 |
| 水素リークディテクター | Adixen | H2000 PLUS |
| 液体クロマトグラフ | 日本分光 | PU-2080Plus |
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | |
| 液体クロマトグラフ | YL Instrument | 9300 HPLC System |
| 液体クロマトグラフ | 日本分光 Jasco | GULLIVER PU-980(2台), PU-986(2台), DG-980-50, DG-980-51, HG-980-30, |
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | DGU-20A3／LC-20AT／SIL-20AC／CBM-20A／SPD-20A／SPD-M20A／CTO-20AC |
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | SPD-20A他 |
| 滴定ビュレット | 東亜DKK | ABT-7 |
| 滴定ビュレット | 東亜DKK | ABT-8 |
| 滴定ビュレット | 東亜DKK | ABT-9 |
| 炭素・硫黄分析装置 | 堀場製作所 | EMIA510 |
| 熱拡散率測定装置 | アドバンス理工 | FTC-1 |
| 熱機械分析装置 | リガク | 8111D1/8140C2 |
| 熱機械分析装置 | 島津製作所 Shimadzu | TMA-60 |
| 熱重量同時測定装置 | 島津製作所 Shimadzu | DTG-60M |
| 磁粉探傷検査装置 | 日本電磁測器 | NQ-303S |
| 穀粒判別器 | サタケ | RCQI10B |
| 窒素ガス発生器 | カネボウ | KN430R |
| 膜厚計 | ナノメトリックス | ナノスペック |
| 自動滴定装置(デュアルシステム）付属品多数 | 東亜DKK | AUT-701 |
| 自動設定中厚分取液体クロマトグラフ | ヤマゼン | EPCLC AI-580 |
| 蛍光X線分析装置 | JEOL | JSX-3202EV |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 堀場製作所 | XGT1000WR |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-700HS50 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 堀場製作所 | XGT-1000WR |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX720 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 堀場製作所 | XGT-1100WR |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-700 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | リガク Rigaku | ZSX Primus3+ |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | セイコーインスツル SII | SEA2210A |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | リガク Rigaku | ZSX Primus2 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | リガク Rigaku | ZSX400 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | その他 | Genius9000XRF |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | PANalytical | |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-GP |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-720 |
| 蛍光Ｘ線分析装置 | 日本電子 | JSX-3202EV |
| 蛍光Ｘ線装置 | SII | SEA1200VX |
| 質量ガス分析装置 | インフィコン | TSP |
| 質量ガス分析装置 | ライボルトインフィコン | TSP TH300 |
| 質量ガス分析装置 | Mks | e-Vision+ LM102-00305004 |
| 質量ガス分析装置 | Mks | e-Vision+ LM102-00305004 |
| 質量ガス分析装置 | アネルバ ANELVA | M-101GA-DM |
| 質量ガス分析装置 | アネルバ ANELVA | M-101GA-DM |
| 質量ガス分析装置 | アネルバ ANELVA | M-101GA-DM |
| 質量ガス分析装置 | その他 | LM |
| 質量ガス分析装置 | アネルバ ANELVA | M-400QA-M |
| 質量ガス分析装置（プロセスガスモニター） | アルバック Ulvac | BGM-201 |
| 質量ガス分析計（Qマス） | ファイファー Pfeiffer | QME200 |
| 質量分析装置 | インフィコン Inficon | TRANSPECTOR |
| 質量分析装置 | 日立 Hitachi | UG410 |
| 走査型プローブ顕微鏡 | Veeco | ナノスコープ |
| 走査型プローブ顕微鏡 | オリンパス Olympus | NV3000 |
| 走査型顕微鏡コントローラー | 日立ハイテク | NanoNavi |
| 走査電子顕微鏡 | 日立 | S-4000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日本電子 Jeol | JSM-5600LV |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日本電子 Jeol | JSM-5410LV |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3000N |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | FEI | Quanta400HV |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | キーエンス Keyence | VE-8800 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5000H |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5200 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日本電子 Jeol | JSM-5200 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3000N |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 島津製作所 Shimadzu | SUPERSCAN SS-550 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-5000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3000N |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日本電子 Jeol | JCM-5000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3100H |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3000N |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | TM1000 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立 Hitachi | S-3000H |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-3500 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-2600H |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-5200 |
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-3000N |
| 走査顕微鏡 SEM | 日立（HITACHI） | S-2600H |
| 走査顕微鏡一式 | 日本電子 | JSM－6330F |
| 超音波膜厚計 | NDT SYSTEM | NOVASCOPE5000 |
| 酸素濃度計 | 東レエンジニアリング | LD-300, SA25NW |
| 酸素濃度計 | 東レエンジニアリング | LD-300, SA25NW |
| 酸素濃度計 | 東レ | LC-850KS |
| 重金属分析装置 | フィールダー（FIELDER） | FT-801 |
| 集束イオンビーム加工装置（ＦＩＢ） | 日立ハイテクノロジーズ | SMI-2050 |
| 集束イオンビーム加工装置（ＦＩＢ） | 日立ハイテクノロジーズ | FB-2000A |
| 集束イオンビーム加工装置（ＦＩＢ） | 日立ハイテクノロジーズ | FB-4080A |
| 電子顕微鏡 | ニコン | ESEM-2700-A |
| 電子顕微鏡 | JEOL | JSM-5310 |
| 電子顕微鏡 | 日立 | S-5000H |
| 電気化学アナライザー ポテンショスタット | ALS | Model600D |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日本電子 Jeol | JSM-7400F |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-5000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-5000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立 Hitachi | S-5000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-5200 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立 Hitachi | S-4300SE |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立 Hitachi | S-5200 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-5000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ | S-5000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立 Hitachi | S-4000 |
| 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-4700 |
| 電界放出型電子顕微鏡（FE-SEM） | 日立ハイテック | S-5000 |
| 非接触シート抵抗測定器 | ナプソン | NC-10 |
| 非接触シート抵抗測定器 | ナプソン | NC-20 |
| 高周波ビードサンプラー | リガク Rigaku | HIGH－FREQUENCY BEAD SAMPLER |